Nuevos métodos para el análisis de imágenes con patrones de franjas

Creado el 17 Abril , 2009 Por: CIO - Información de contacto

Categorias:

metrología
óptica

Fecha inicio:

Jun 2005

Fecha fin:

2008 Mayo

Palabras clave:

óptica
metrología

Síntesis:

Se estudiaron nuevos metodos para el analisis de interferogramas digitales. Estos analisis y estudios extendieron las posibilidades de la interferometria digital a nuevas fronteras. Entre estos se analizo un metodo en el cual se presume que la funcion moduladora de fase del interferograma es de Curvatura Continua o C2 esto permite el analisis de un solo interferograma con franjas cerradas

Lineas de investigación:

Pruebas ópticas no destructivas/ instrumentación para metrología óptica

Grado académico:

Doctorado

Nombre del investigador responsable:

Manuel Servín Guirado